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萬(wàn)濠金相顯微鏡|MTM-1510M/MTM-2010M、MTM-3020MA、MTM-5040M、MTM-1010M、MTM-6065H/MTM-6090H系列Rational金相顯微鏡的型號(hào)、價(jià)格、報(bào)價(jià)、故障檢測(cè)、維修保養(yǎng)、軟件升級(jí)等方面服務(wù)請(qǐng)聯(lián)系我們。用于二維測(cè)量為主，也可作三維輔助測(cè)量，廣泛應(yīng)用于電子組件、模具、塑料、PCB加工方面、鍍膜厚度、手機(jī)玻璃等工業(yè)領(lǐng)域。

萬(wàn)濠金相顯微鏡|MTM-1510M/MTM-2010M技術(shù)參數(shù)：

用途：

測(cè)量型金相顯微鏡是一種兼顧影像與目視兩用的測(cè)量?jī)x器。它具有電視成像與目視光學(xué)兩套瞄準(zhǔn)系統(tǒng)，是集光、機(jī)、電、算、影像測(cè)量型金相顯微鏡。該儀器廣泛用于電子組件、模具、刀具、塑料、PCB加工等方面，不僅可用作坐標(biāo)測(cè)量，還可以目鏡標(biāo)準(zhǔn)分劃板作顯微放大比較測(cè)量，測(cè)量螺紋的節(jié)距、外徑、牙角等工件尺寸或外形輪廓，ACF導(dǎo)電粒子形狀和瑕疵觀察，除應(yīng)用于長(zhǎng)度、角度測(cè)量外，還可作為觀察顯微鏡。是機(jī)械、電子、儀表、鐘表、輕工、塑料行業(yè)，院校、研究所和計(jì)量檢定部門的計(jì)量室、實(shí)驗(yàn)室已經(jīng)生產(chǎn)車間*的計(jì)量檢測(cè)設(shè)備之一。

特點(diǎn)：

1. X、Y、Z三軸0.5μm分辨力

2. 具Z軸粗調(diào)/微調(diào)旋鈕

3. 同軸表面光/底光量測(cè)

4. 內(nèi)置偏光量測(cè)光學(xué)模塊

5. 可量測(cè)透明材質(zhì)納米級(jí)高度差

6. 可選配白光納米檢測(cè)模組

技術(shù)規(guī)格參數(shù)：

特點(diǎn)：

1. X、Y、Z三軸0.5μm分辨力

2. 電動(dòng)Z軸分辨力0.1μm

3. 具有高度自動(dòng)測(cè)量

4. 內(nèi)建偏光測(cè)量光學(xué)模塊

5. 高速/無(wú)接觸測(cè)量

6. 同軸光/底光測(cè)量

7. 可搭配白光納米檢測(cè)模塊測(cè)量納米級(jí)厚度

技術(shù)規(guī)格參數(shù)：

特點(diǎn)：

1. 符合人機(jī)工程學(xué)設(shè)計(jì)準(zhǔn)則方便操作測(cè)量

2. 工作臺(tái)一鍵式氣動(dòng)單手快速移動(dòng)操作

3. 可實(shí)現(xiàn)Z軸自動(dòng)對(duì)焦

4. 具有偏光和DIC檢測(cè)功能

5. 采用被動(dòng)式減震裝置，提高整機(jī)精度穩(wěn)定性

6. QMS3D-M軟件，高清晰進(jìn)口1/2"彩色攝像機(jī)

7. 可通過(guò)激光指示器尋找被測(cè)工件的具體位置，可適應(yīng)復(fù)雜工件的測(cè)量

8. 可實(shí)現(xiàn)高度輔助測(cè)量

9. Z軸光柵尺分辨力為0.1μm

10. 同軸光/底光測(cè)量

11. 可搭配白光納米檢測(cè)模塊測(cè)量納米級(jí)厚度

技術(shù)規(guī)格參數(shù)：

特點(diǎn)：

1. X、Y、Z三軸0.5μm分辨力

2. 具Z軸粗調(diào)/微調(diào)旋鈕

3. 同軸表面光/底光量測(cè)

4. 內(nèi)置偏光量測(cè)光學(xué)模塊

5. 可量測(cè)透明材質(zhì)納米級(jí)高度差

6. 可選配白光納米檢測(cè)模組

技術(shù)規(guī)格參數(shù)：

特點(diǎn)：

1. Z軸光柵尺分辨力為0.1μm

2. X、Y軸采用空氣軸承、花崗石導(dǎo)向，了機(jī)械系統(tǒng)的穩(wěn)定，提高了測(cè)量精度

3. X、Y、Z三軸伺服控制，定位精度高、速度快，運(yùn)行平穩(wěn)

4. 同軸光/底光測(cè)量

5. 內(nèi)置偏光測(cè)量光學(xué)模塊

6. 自主開(kāi)發(fā)QMS3D-M軟件，高清晰進(jìn)口1/2"彩色攝像機(jī)

7. 可通過(guò)激光指示器尋找被測(cè)工件的具體位置，可適應(yīng)復(fù)雜工件的測(cè)量

8. 可實(shí)現(xiàn)Z軸自動(dòng)對(duì)焦

9. 具有偏光和DIC檢測(cè)功能

10. 可搭配白光納米檢測(cè)模塊測(cè)量納米級(jí)厚度

技術(shù)規(guī)格參數(shù)：